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三綜合試驗(yàn)箱常見標(biāo)準(zhǔn)

發(fā)布時(shí)間： 2024-10-10　　點(diǎn)擊次數(shù)： 1132次

三綜合試驗(yàn)箱-1 - 副本.jpg

三綜合試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：

三綜合.png

1. GB/T 2423.25-2008：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》；

2. GB/T 2423.26-2008：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》；

3. GB/T 2423.27-2005：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)》；

4. GB/T 2423.35-2005：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)》，其更新標(biāo)準(zhǔn)為GB/T 2423.35-2019：《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)和導(dǎo)則氣候（溫度、濕度）和動(dòng)力學(xué)（振動(dòng)、沖擊）綜合試驗(yàn)》；

5. GB/T 2423.36-2005：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BFe：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)》；

6. GB/T 2424.15-2008：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則》；

7. GB/T 2424.22-1986：《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則》；

8. GB/T 5170.19-2018：《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第19部分：溫度、振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備》；

9. GB/T 12085.5-2010：《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)》。

10.GB/T 28046.3-2011 道路車輛電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn)